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鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-126U

更新(xin)時間:2024-02-28

簡要描述:

鎧裝薄膜鉑熱電阻(zu),WZPK-126U, 熱電阻(zu)的工作(zuo)(zuo)原(yuan)理:在溫(wen)度(du)的作(zuo)(zuo)用下,電阻(zu)絲的電阻(zu)隨之變化(hua)而變化(hua)。可(ke)用于測量 -200℃~﹢800℃范(fan)圍(wei)內的溫(wen)度(du)。

鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-126U 熱電阻的工作原理:在溫度的作用下,電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃~﹢800℃范圍內的溫度。其優點是:偏差極小。由于它的良好電輸出性能,熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調節儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。
 詳細資料:

1.              測溫范圍、允(yun)差

 

名稱(cheng)

型(xing)號

分度號

測溫范圍

等級(ji)

允許偏差

鉑電阻

WZP

Pt100

Pt10

-200~±650

A

±(0.15+0.02t)

B

±0.30+0.005t

銅電阻(zu)

WZC

Cu50

Cu100

-50~+150

 

±(0.30+0.006t)

 

2.熱響應時間

   在溫度(du)出現階躍變(bian)化時(shi),熱電阻的電阻值變化至(zhi)相(xiang)當于該階躍變化的50%,所(suo)需要的時間(jian)稱為熱響(xiang)應時間(jian),用t0.5表示(shi)。

3.自熱影響(xiang)

鉑電阻(zu)允許通過電流1mA,zui大(da)測量電(dian)流為5mA,由(you)此產生的升溫不大于0.3℃。

 

4.電阻溫度系數(α)與標(biao)稱值的偏差(cha)

 

名(ming)稱

等(deng)級

α

α

鉑電阻

A

0003851

±0.000006

B

±0.000012

銅電阻

 

0004280

±0.000020

 

5.絕緣電阻(zu)

     當周圍空氣溫度(du)15-35和相(xiang)對濕度小(xiao)于80%時(shi)熱電阻(zu)絕緣(yuan)電阻(zu)不小于100MΩ

 

薄膜鉑電(dian)阻元件

一(yi)、         概述

      CRZ系列薄膜鉑(bo)熱電阻元(yuan)件是把金(jin)屬鉑(bo)研制成(cheng)粉漿(jiang),采用*的(de)激光(guang)(guang)(guang)噴(pen)濺(jian)薄膜技術及(ji)光(guang)(guang)(guang)刻法和(he)干(gan)燥蝕刻法把附著在(zai)陶瓷基片上(shang)形成(cheng)膜,引線經過(guo)激光(guang)(guang)(guang)調阻制成(cheng),*自動的(de)生(sheng)產程序保證了(le)產品(pin)*符合IEC標準(zhun)。

二、         技術特點

1.              薄膜鉑(bo)(bo)熱(re)電阻元件用陶(tao)瓷和鉑(bo)(bo)制成(cheng),因而在高溫下能夠(gou)保持優(you)良的穩定性,適(shi)合在-50~400℃的溫度下使用(yong)。

2.              鉑薄膜通過(guo)激光噴濺在陶瓷表層,因而它具有良好的(de)防震和防沖擊性能。

3.              薄膜表面蓋以(yi)陶瓷(ci),因而元件能(neng)夠承受高壓,并具(ju)有良(liang)好的(de)絕緣性。

4.              引線材料為鎳鍍金(jin)和純鈀兩種。

5.         ;     規格:

 

型號

規格

長×寬×高

阻值

測(ce)量(liang)電流

精度

測量(liang)范(fan)圍

熱(re)響應時間

CRZ-1632

3.2×1.6×1.0

PT100

PT100

1mA

A

-50~550℃

0.3S

CRZ-2005

5.0×2.0×1.1

PT50

2mA

A

-50~400℃

CRZ-2005

5.0×2.0×1.0

PT10

0.5mA

B

-50~500℃

 

6.              精度:

 

等級

α

0時的電阻值(Ω)

允許偏(pian)差(Ω)

A

 0.003851

100.00

±0.150+0.002t

B

0.003851

100.00

±0.30+0.005t

 鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-126U

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