更新時間:2024-02-28
鎧裝薄(bo)膜(mo)鉑熱(re)(re)電(dian)阻(zu)(zu),WZPK-404U, 熱(re)(re)電(dian)阻(zu)(zu)的(de)工作(zuo)原理:在溫(wen)度的(de)作(zuo)用下(xia),電(dian)阻(zu)(zu)絲的(de)電(dian)阻(zu)(zu)隨(sui)之變化而變化。可用于測量 -200℃~﹢800℃范(fan)圍內的(de)溫(wen)度。
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鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-404U,的詳細資料: |
1. 測溫范圍、允差
2.熱響應(ying)時間(jian) 在(zai)溫度(du)出現階(jie)躍(yue)變化時,熱電阻(zu)的電阻(zu)值(zhi)變(bian)化至相當于(yu)該階躍變(bian)化的50%,所需要的時間(jian)稱(cheng)為熱響應時間(jian),用t0.5表(biao)示(shi)。 3.自熱影(ying)響 鉑電(dian)阻允許通過(guo)電(dian)流1mA,zui大測量(liang)電流為5mA,由此產生的升溫不大于(yu)0.3℃。
4.電(dian)阻溫度系數(α)與標稱值(zhi)的偏(pian)差(cha)
5.絕緣電(dian)阻 當(dang)周圍空氣溫度15-35℃和相對濕度小于80%時(shi)熱(re)電(dian)阻(zu)絕緣電(dian)阻(zu)不小(xiao)于100MΩ。
薄膜鉑電阻元件 一、 概述 CRZ系列薄(bo)(bo)膜鉑(bo)熱電阻(zu)元(yuan)件是把(ba)金屬鉑(bo)研制(zhi)成粉漿,采用(yong)*的(de)激光(guang)噴濺薄(bo)(bo)膜技術及光(guang)刻(ke)法和干燥(zao)蝕(shi)刻(ke)法把(ba)附著在(zai)陶瓷基片上形成膜,引線經(jing)過激光(guang)調(diao)阻(zu)制(zhi)成,*自動的(de)生(sheng)產程序保證(zheng)了(le)產品*符合IEC標準。 二、 技術特點 1. 薄膜鉑熱電阻元(yuan)件(jian)用(yong)陶瓷和(he)鉑制成(cheng),因而在高溫下能(neng)夠保持優良的穩定性,適合在-50~400℃的(de)溫度下使用。 2. 鉑薄膜(mo)通過激光噴濺在陶瓷表層(ceng),因而它具(ju)有良好(hao)的防震和防沖擊性能。 3. 薄膜(mo)表面蓋(gai)以(yi)陶瓷,因而元(yuan)件能夠承受(shou)高壓,并具有良好(hao)的絕緣性(xing)。 4. 引線材料為鎳(nie)鍍(du)金和純鈀(ba)兩種。 5. 規格:
6. 精度:
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021-56699281
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