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鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-506U

更新時間:2024-02-28

簡要描述:

鎧裝薄膜(mo)鉑熱電(dian)阻,WZPK-506U上海自動化(hua)儀表三廠, 熱電(dian)阻的(de)工作原理(li):在溫度的(de)作用下,電(dian)阻絲的(de)電(dian)阻隨之(zhi)變化(hua)而變化(hua)。

鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-506U上海自動化儀表三廠, 熱電阻的工作原理:在溫度的作用下,電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃~﹢800℃范圍內的溫度。其優點是:偏差極小。由于它的良好電輸出性能,熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調節儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值
 WZPK506U鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-506U上海自動化儀表三廠的詳細資料:

1.              測(ce)溫范(fan)圍、允(yun)差

 

名(ming)稱

型號

分(fen)度號

測(ce)溫范圍(wei)

等(deng)級

允許偏差

鉑電阻

WZP

Pt100

Pt10

-200~±650

A

±(0.15+0.02t)

B

±0.30+0.005t

銅電阻

WZC

Cu50

Cu100

-50~+150

 

±(0.30+0.006t)

 

2.熱(re)響應時間(jian)

   在溫(wen)度出現(xian)階躍變化時,熱電阻的(de)(de)電阻值變化至相當(dang)于該(gai)階躍變化的(de)(de)50%,所需要的時間稱為(wei)熱響應時間,用t0.5表示。

3.自熱(re)影響

鉑(bo)電(dian)阻允許通過電(dian)流1mA,zui大測量電(dian)流為5mA,由此產(chan)生的升(sheng)溫不(bu)大(da)于0.3℃。

 

4.電(dian)阻溫(wen)度系(xi)數(α)與標稱值的偏差(cha)

 

名稱

等(deng)級

α

α

鉑電阻

A

0003851

±0.000006

B

±0.000012

銅(tong)電阻

 

0004280

±0.000020

 

5.絕緣(yuan)電阻

     當周(zhou)圍空氣(qi)溫度15-35和相(xiang)對濕度小(xiao)于80%時熱電阻(zu)絕緣電阻(zu)不(bu)小于100MΩ

 

薄(bo)膜(mo)鉑電(dian)阻元(yuan)件

一(yi)、         概(gai)述

      CRZ系列(lie)薄膜(mo)鉑熱電阻(zu)元(yuan)件是(shi)把(ba)金屬鉑研制成(cheng)粉漿,采(cai)用*的(de)激光噴濺(jian)薄膜(mo)技術及光刻法和干燥蝕(shi)刻法把(ba)附(fu)著(zhu)在(zai)陶(tao)瓷基片上形(xing)成(cheng)膜(mo),引線經(jing)過激光調阻(zu)制成(cheng),*自動的(de)生產程序保證(zheng)了產品*符合IEC標準。

二、         ;技術(shu)特(te)點(dian)

1.              ;薄(bo)膜鉑熱(re)電(dian)阻元件用陶(tao)瓷和鉑制成,因而(er)在高溫下能夠保持優(you)良的穩(wen)定(ding)性(xing),適(shi)合在-50~400℃的溫度下使用。

2.              鉑薄膜通過激光噴濺在陶瓷表層,因而它具有良好(hao)的防(fang)震和防(fang)沖擊性能。

3.              薄膜表面(mian)蓋以(yi)陶瓷,因而元件能夠承受高壓,并(bing)具有良(liang)好的絕緣性。

4.              引(yin)線(xian)材(cai)料為(wei)鎳鍍金和純鈀兩種。

5.              規格:

 

型(xing)號

規(gui)格

長(chang)×寬×高

阻值

測量電流

精度

測量范圍

熱響應時間

CRZ-1632

3.2×1.6×1.0

PT100

PT100

1mA

A

-50~550℃

0.3S

CRZ-2005

5.0×2.0×1.1

PT50

2mA

A

-50~400℃

CRZ-2005

5.0×2.0×1.0

PT10

0.5mA

B

-50~500℃

 

6.              精度:

 

等級

α

0時的電阻(zu)值(Ω)

允許偏差(Ω)

A

 0.003851

100.00

±0.150+0.002t

B

0.003851

100.00

±0.30+0.005t

 

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