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鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-133U

更新時間:2024-02-28

簡要描述:

鎧裝薄膜(mo)鉑熱電阻(zu)(zu),WZPK-133U, 熱電阻(zu)(zu)的工(gong)作原理:在溫(wen)度的作用下(xia),電阻(zu)(zu)絲(si)的電阻(zu)(zu)隨之變化而變化。

鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-133U上海自動化儀表三廠, 熱電阻的工作原理:在溫度的作用下,電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃~﹢800℃范圍內的溫度。其優點是:偏差極小。由于它的良好電輸出性能,熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調節儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值
 WZPK133U鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-133U上海自動化儀表三廠,的詳細資料:

1. ;             測溫范圍(wei)、允差

 

名稱

型號

分(fen)度(du)號

測溫范圍

等級(ji)

允(yun)許偏差

鉑電(dian)阻

WZP

Pt100

Pt10

-200~±650

A

±(0.15+0.02t)

B

±0.30+0.005t

銅電阻(zu)

WZC

Cu50

Cu100

-50~+150

 

±(0.30+0.006t)

 

2.熱響應時(shi)間

   在溫度(du)出現階(jie)躍變化時,熱電(dian)阻的電(dian)阻值變化(hua)至(zhi)相當于該階躍(yue)變化(hua)的50%,所需要(yao)的(de)時間稱為熱響應時間,用t0.5表示。

3.自熱影響(xiang)

鉑電阻允(yun)許通過(guo)電流1mA,zui大測量(liang)電(dian)流為5mA,由此(ci)產生(sheng)的升溫(wen)不(bu)大于0.3℃。

 

4.電阻(zu)溫(wen)度系數(α)與標稱值的偏差

 

名稱

等級

α

α

鉑電阻

A

0003851

±0.000006

B

±0.000012

銅(tong)電阻

 

0004280

±0.000020

 

5.絕緣電阻

     當周圍空氣(qi)溫度15-35和相對(dui)濕度(du)小于80%時(shi)熱(re)電阻(zu)絕緣電阻(zu)不小于(yu)100MΩ

 

薄(bo)膜鉑(bo)電阻(zu)元件

一(yi)、         概述

      CRZ系(xi)列薄(bo)膜鉑熱電阻(zu)元件(jian)是把金(jin)屬鉑研制(zhi)成(cheng)粉漿,采(cai)用*的(de)激光(guang)噴濺薄(bo)膜技術及光(guang)刻(ke)法(fa)和(he)干燥蝕刻(ke)法(fa)把附著在陶瓷基片上形成(cheng)膜,引線經過激光(guang)調阻(zu)制(zhi)成(cheng),*自動的(de)生產程序保(bao)證了產品(pin)*符合IEC標準。

二、         技術特點

1.              薄膜鉑熱電阻元(yuan)件用(yong)陶(tao)瓷和鉑制成,因而在高溫下(xia)能夠保持優(you)良(liang)的穩定性(xing),適合在-50~400℃的溫(wen)度下使用。

2.              鉑薄膜通過激光噴濺在陶瓷表(biao)層,因而(er)它(ta)具有良好的防(fang)震(zhen)和防(fang)沖擊性能。

3.              薄膜表面蓋(gai)以陶(tao)瓷(ci),因而元件能夠承受(shou)高壓,并具(ju)有良好(hao)的絕緣性。

4.              引線材料為(wei)鎳鍍(du)金(jin)和純(chun)鈀兩種。

5.              規格:

 

型號

規格(ge)

長×寬×高

阻值

測量電流(liu)

精(jing)度(du)

測量(liang)范圍

熱響應時間

CRZ-1632

3.2×1.6×1.0

PT100

PT100

1mA

A

-50~550℃

0.3S

CRZ-2005

5.0×2.0×1.1

PT50

2mA

A

-50~400℃

CRZ-2005

5.0×2.0×1.0

PT10

0.5mA

B

-50~500℃

 

6.              精度:

 

等(deng)級

α

0時(shi)的電阻值(Ω)

允許偏差(cha)(Ω)

A

 0.003851

100.00

±0.150+0.002t

B

0.003851

100.00

±0.30+0.005t

 

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