更(geng)新時間:2024-03-04
WGG2-323型光學(xue)高溫計一般用(yong)來測量700~3200℃范圍澆鑄、軋鋼(gang)、鍛(duan)壓、熱處理和玻璃熔融時的(de)溫度,具有結構簡單(dan)、使用(yong)方(fang)便、量程較(jiao)寬(kuan)、有較(jiao)高的(de)精度等優點(dian)。
· WGG2-323型光學(xue)高溫計由上海自動化儀表三廠*生產制造,我廠生產的光學高溫計,又稱“非接觸式高溫儀表”,一般用來測量700~3200℃范圍澆鑄、軋鋼、鍛壓、熱處理和玻璃熔融時的溫度,具有結構簡單、使用方便、量程較寬、有較高的精度等優點。本廠愿竭誠心為國內外客商提供優質的產品和優良的技術服務!
【產品簡介】
WGG2-201N型數顯光學高溫計是(shi)非接觸式測量高(gao)溫的(de)儀表,當被(bei)測量的(de)溫度(du)(du)高(gao)于熱(re)(re)電偶所能使用的(de)范圍,以及熱(re)(re)電偶不可能裝置或(huo)不適宜裝置的(de)場所,用光(guang)學(xue)高(gao)溫計一(yi)般可以滿足這個要求。它廣(guang)泛地用來(lai)測量冶煉、澆鑄、軋鋼、玻(bo)璃(li)熔(rong)窖、鍛打(da)、熱(re)(re)處(chu)理等溫度(du)(du),是(shi)冶金、化工和機械(xie)等工業(ye)生(sheng)產過程(cheng)中*的(de)溫度(du)(du)測量儀表之(zhi)一(yi),并符(fu)合(he)JB/T2167-1999標準。
【WGG2-323型光學高(gao)溫計(ji)主要技術指標】
型號及名稱:
測溫范(fan)圍:1200~3200℃
制造商:上海(hai)自(zi)動化儀(yi)表(biao)三廠(chang)
質保期(qi)限:壹年
【型號規格】
1、測量范圍(wei)和允許(xu)的基本誤(wu)差
產品(pin)型號 | 測量范圍℃ | 量(liang)程(cheng) | 允許(xu)基本誤差℃ | |
WGG2-201N | 700-2000 | 1 | 700-800 | ±33 |
800-1500 | ±22 | |||
2 | 1200-2000 | ±30 | ||
WGG2-323N | 1200-3200 | 1 | 1200-2000 | ±30 |
2 | 1800-3200 | ±80 |
2、工作電(dian)壓:3V(兩節(jie)1#干電(dian)池(chi))
3、工(gong)作(zuo)距離:不小于(yu)0.7m
4、工(gong)作環(huan)境:溫度為10-50℃,相對(dui)濕度不大于80%
5、外形尺寸:252*140*164mm
【結構與原理】
產品的原理基于維恩公式,采用已知溫度的亮度(高溫計燈泡的燈絲的亮度)與被測物體的亮度進行比較來測量物體的溫度,通過光學系統在一定波段(0.66μm)范圍比較燈絲與被測物體的表明亮度,使燈絲的亮度和被測物體的亮度相均衡,采用數字檢測及顯示技術讀出物體的亮度溫度。
數字顯示式光學高溫計由光學系統和電測系統構成,結構如圖一所示:
1. 進行亮度平衡時,應使燈絲的頂部亮度進行平衡,否則會產生很大的誤差。
2. 瞄準被測物體,接通電源,使用S鍵(量程鍵)切換量程,根據吸收玻璃旋鈕2的指向進行選擇。
3. 旋轉滑線電阻盤3,使燈絲的電流逐漸的增大,調節燈絲的亮度到燈絲頂部的象隱滅在被測物體的象中,讀取顯示的溫度值。光學高溫計燈泡燈絲的隱滅情況如圖四所示。
為了獲得正確的讀數,應該逐漸的調節高溫計燈泡燈絲的電流,先從從暗到亮,從亮到暗反復兩次,每次調整到燈絲隱滅時讀出溫度值,然后將四次讀數的平均值作為被測物體的亮度溫度。
4. 數據處理
當需要存儲當前的數據時,要在松開電源開關7后,按下M/R鍵10(存儲再讀鍵),此次的測量溫度值被記錄,一共可以存儲十組數據。當需要查看以前的存儲數據時,在關機后按下M/R鍵10,進入數據回現模式,自動顯示zui近一次保存的數據,每按一次M/R鍵,顯示上一次保存的數據,顯示完十個數據后自動跳回*個數據,如圖所示:
5. 求出真實溫度
光學高溫計是按黑體進行溫度刻度的,但在實際使用中,大部分被測物體的單位發射率?λ都小于1,故用光學高溫計測得的亮度溫度S℃總是低于該物體的真實溫度T℃需要按照附表2修正曲線加以修正。
修正公式:
真實溫度T℃=光學高溫計讀數S℃+溫度修正值Δt℃
物體的真實溫度T℃和其亮度溫度S℃及單色發射率ελ的關系式如下:
1 T+273 | = | 1 S+273 | +1.0404×10-4logελ |
修正方法:
根據被測對象,從附表1中查出其單色發射率?λ。由高溫計的zui終讀數S℃,從曲線圖的橫坐標中查出其對應位置,再從縱坐標中查出對應S℃及該種物體的的單色發射率?λ時的溫度修正值?t℃。由修正公式求出其真實溫度T℃。
6. 關機
當光學高溫計在待機15s后,無任何操作,即可關機。
附(fu)表1.有效波長λ=0.66μm時各(ge)種金屬材料的單色輻射率(lv)
材料名稱 | 表面無(wu)氧化(hua)層 | 有氧(yang)化層(ceng)光滑表面 | |
固態 | 液(ye)態 | ||
鋁 | — | — | 0.22~0.4 |
銀 | 0.07 | 0.07 | — |
銅 | 0.35 | 0.37 | 0.8 |
鑄鐵 | 0.37 | 0.4 | 0.7 |
銅 | 0.1 | 0.15 | 0.6~0.8 |
康銅 | 0.35 | — | 0.84 |
鎳 | 0.36 | 0.37 | 0.85~0.96 |
鎳(nie)鉻合金 | |||
90%Ni,10%Cr | 0.35 | — | 0.87 |
80%Ni,20%Cr | 0.35 | — | 0.90 |
鎳鉻(ge)合金 | |||
95Ni,Al,Mn,Si | 0.37 | — | — |
磁器 | — | — | 0.25~0.50 |
石墨(粉狀) | 0.95 | — | — |
碳 | 0.80~0.93 | — | — |
附表2. 光學高溫計讀數修正曲線圖
【應用范圍】
適用于各種冶煉、澆鑄、軋鋼、玻璃熔窖、鍛打、熱處理等現場溫度測量。
【高溫計使用注意事項】
(1)盡(jin)量(liang)避免黑(hei)度(du)系(xi)數(shu)的(de)(de)(de)(de)影響。光(guang)學高溫(wen)計的(de)(de)(de)(de)標尺是(shi)按黑(hei)體標定的(de)(de)(de)(de).而實際的(de)(de)(de)(de)被測(ce)物體都(dou)不是(shi)黑(hei)體,儀表的(de)(de)(de)(de)讀數(shu)應當技式(3-50)進行修正、求(qiu)出真實據(ju)(ju)度(du)。由(you)于(yu)黑(hei)度(du)系(xi)數(shu)與物體的(de)(de)(de)(de)材質、表面狀況、溫(wen)度(du)及波長(chang)等有關,雖然一些書(shu)籍中(zhong)列入了某些材彩(cai)的(de)(de)(de)(de)q值,也只(zhi)告(gao)訴(su)廠一個估值范圍,實際應用(yong)中(zhong)較難估計準確。為了減少這一測(ce)量(liang)誤差,可(ke)以在測(ce)量(liang)中(zhong)使(shi)被測(ce)對象盡(jin)可(ke)能(neng)地接近黑(hei)體。例(li)如,從滬(hu)門(men)上的(de)(de)(de)(de)小孔觀測(ce)爐膛(tang)內(nei)部空間的(de)(de)(de)(de)溫(wen)度(du),可(ke)以認為其黑(hei)度(du)系(xi)數(shu)近似為1,根據(ju)(ju)式(3—50),儀表示值就基(ji)本上是(shi)護膛(tang)內(nei)的(de)(de)(de)(de)真實溫(wen)度(du),無須加以修正了。
(2)盡(jin)量減少中(zhong)間介(jie)質的吸(xi)(xi)收。被測(ce)物(wu)體(ti)至高溫計之間的水蒸(zheng)氣(qi)、二(er)氧化碳;灰塵等均會吸(xi)(xi)收被測(ce)物(wu)體(ti)的輻(fu)射能(neng),減弱到(dao)達(da)高溫計的亮度,使(shi)測(ce)量結(jie)果低(di)于實際溫度,因(yin)此(ci).應當盡(jin)可能(neng)在清潔(jie)環(huan)境中(zhong)測(ce)量,以克服(fu)中(zhong)間介(jie)質吸(xi)(xi)收的影響。
(3)測(ce)量距(ju)離(li)(li)的(de)限制。由于(yu)中間介(jie)質的(de)影響存在,測(ce)量距(ju)離(li)(li)忿大(da),造成的(de)誤差也愈大(da)。另一方面根據儀器光學系統設計的(de)要(yao)求,測(ce)量距(ju)離(li)(li)要(yao)大(da)于(yu)700mm,因此,光學高溫計的(de)測(ce)量距(ju)離(li)(li)在 1-2m內為好。
(4)防止非自身輻射(she)的(de)(de)(de)影響。如果到達光學高溫計的(de)(de)(de)輻射(she)線不僅(jin)有被測(ce)物(wu)自身的(de)(de)(de)輻射(she),還(huan)有其它物(wu)體(ti)(ti)發(fa)出經(jing)被測(ce)物(wu)體(ti)(ti)表(biao)面反射(she)而進入物(wu)鏡的(de)(de)(de)射(she)線時,使測(ce)量(liang)結果高于實際物(wu)體(ti)(ti)溫度。
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