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鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-123U

更新時間:2024-02-28

簡要描述:

鎧裝薄膜鉑熱電(dian)(dian)阻,WZPK-123U, 熱電(dian)(dian)阻的工作(zuo)原理:在溫(wen)度(du)的作(zuo)用(yong)下,電(dian)(dian)阻絲的電(dian)(dian)阻隨之(zhi)變(bian)化(hua)而變(bian)化(hua)。可用(yong)于測量 -200℃~﹢800℃范圍內(nei)的溫(wen)度(du)。

 

鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-123U

熱電阻的工作原理:在溫度的作用下,電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃~﹢800℃范圍內的溫度。其優點是:偏差極小。由于它的良好電輸出性能,熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調節儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。
 詳細資料:

1.     ;         測溫范圍、允差

 

名稱

型號

分度(du)號

測(ce)溫范圍

等級

允(yun)許偏差

鉑(bo)電阻

WZP

Pt100

Pt10

-200~±650℃

A

±(0.15+0.02t)

B

±0.30+0.005t

銅電阻

WZC

Cu50

Cu100

-50~+150℃

 

±(0.30+0.006t)

 

2.熱響應時間

  ; 在溫度出(chu)現階(jie)躍(yue)變化(hua)時,熱電(dian)(dian)阻的電(dian)(dian)阻值變化(hua)至相當(dang)于該階(jie)躍(yue)變化(hua)的50%,所需(xu)要的時間(jian)稱為(wei)熱響應時間(jian),用t0.5表示。

3.自(zi)熱影(ying)響(xiang)

鉑電阻允(yun)許通過電流(liu)1mA,zui大(da)測量電流(liu)為(wei)5mA,由此產生的升溫不大(da)于0.3℃。

 

4.電阻溫度系數(α)與標稱值的偏差

 

名稱

等級(ji)

α

α

鉑電阻

A

0.003851

±0.000006

B

±0.000012

銅(tong)電(dian)阻

 

0.004280

±0.000020

 

5.絕緣電阻

     當周圍(wei)空氣溫度(du)15-35℃和相對濕度(du)小于(yu)80%時熱電(dian)(dian)阻絕(jue)緣電(dian)(dian)阻不小于(yu)100MΩ。

 

薄膜(mo)鉑電阻(zu)元件

一、         概述

      CRZ系(xi)列(lie)薄膜鉑(bo)熱電阻(zu)元件是把金屬鉑(bo)研制成(cheng)粉漿(jiang),采用*的激光噴濺薄膜技(ji)術及光刻法和干燥蝕刻法把附著(zhu)在陶(tao)瓷基片上形成(cheng)膜,引線(xian)經過激光調阻(zu)制成(cheng),*自動的生產(chan)程序保證了產(chan)品*符合IEC標準。

二、     ;    技術特點

1.              薄膜鉑(bo)熱電阻元件(jian)用(yong)陶瓷和(he)鉑(bo)制成,因而(er)在高溫下(xia)能夠保(bao)持優良(liang)的穩定(ding)性,適合(he)在-50~400℃的溫度下(xia)使用(yong)。

2.           ;   鉑薄膜(mo)通過激光噴濺在陶瓷表層,因而它具有良(liang)好的防震和防沖(chong)擊性能。

3.              薄膜表面蓋以陶瓷,因而(er)元(yuan)件能夠承(cheng)受高壓(ya),并具有良好的絕緣性。

4.              引線(xian)材料為鎳(nie)鍍金和(he)純鈀兩種。

5.              規格:

 

型號

規格

長×寬×高

阻(zu)值

測量(liang)電流

精度

測量范圍

熱(re)響應時間

CRZ-1632

3.2×1.6×1.0

PT100

PT100

≤1mA

A

-50~550℃

≤0.3S

CRZ-2005

5.0×2.0×1.1

PT50

≤2mA

A

-50~400℃

CRZ-2005

5.0×2.0×1.0

PT10

≤0.5mA

B

-50~500℃

 

6.              精度:

 

等(deng)級

α

0℃時(shi)的電阻值(Ω)

允許偏差(Ω)

A

 0.003851

100.00

±0.150+0.002t

B

0.003851

100.00

±0.30+0.005t

鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-123U

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