鎧裝薄膜熱電阻，WZPK-205U

更新時間：2024-02-28

簡要描述：

鎧裝薄膜熱電(dian)(dian)阻(zu)，WZPK-205U，熱電(dian)(dian)阻(zu)的(de)(de)工(gong)作(zuo)原(yuan)理：在溫度的(de)(de)作(zuo)用下，電(dian)(dian)阻(zu)絲的(de)(de)電(dian)(dian)阻(zu)隨(sui)之變化而變化。可(ke)用于(yu)測(ce)量 -200℃～﹢800℃范(fan)圍內(nei)的(de)(de)溫度。其優點是(shi)：偏差極小。

鎧裝薄膜熱電阻，WZPK-205U，熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內的溫度。其優點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調節儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值

WZPK205U鎧裝薄膜熱電阻，WZPK-205U，的詳細資料：

1． ; 測溫范(fan)圍、允差

名稱	型號	分度號	測(ce)溫(wen)范圍	等級	允許偏差
鉑電(dian)阻	WZP	Pt100 Pt10	-200~±650℃	A	±（0.15+0.02t）
鉑電(dian)阻	WZP	Pt100 Pt10	-200~±650℃	B	±0.30+0.005t
銅電阻	WZC	Cu50 Cu100	-50~+150℃		±（0.30+0.006t）

2.熱響應時間

在溫度出現階躍變化時(shi),熱電阻的電阻值變(bian)化至相當于該階躍變(bian)化的50%，所(suo)需要的時間稱(cheng)為熱響應時間，用t0.5表示。

3.自熱影響

鉑電阻允許(xu)通過電流1mA，zui大測量電流為5mA，由(you)此產(chan)生的(de)升溫不大(da)于0.3℃。

4.電阻溫度系數（α）與標稱值的偏差(cha)

名稱	等級(ji)	α	α
鉑電阻	A	0．003851	±0.000006
鉑電阻	B	0．003851	±0.000012
銅電(dian)阻		0．004280	±0.000020

5.絕緣電阻

當周圍空氣溫(wen)度15-35℃和相對濕(shi)度(du)小于80%時熱電(dian)阻絕(jue)緣電(dian)阻不小(xiao)于(yu)100MΩ。

薄膜鉑電阻元件(jian)

一(yi)、   概述

CRZ系(xi)列薄膜(mo)鉑(bo)熱電(dian)阻(zu)元件是把金屬(shu)鉑(bo)研制成(cheng)(cheng)粉漿(jiang)，采(cai)用*的激(ji)光噴濺薄膜(mo)技(ji)術及光刻法和干燥(zao)蝕刻法把附著在(zai)陶瓷基(ji)片上(shang)形成(cheng)(cheng)膜(mo)，引線(xian)經(jing)過(guo)激(ji)光調阻(zu)制成(cheng)(cheng)，*自動的生產(chan)程序保證(zheng)了產(chan)品*符合IEC標準。

二、   技術特點

1．   薄(bo)膜鉑熱電阻(zu)元件(jian)用陶瓷和鉑制(zhi)成，因而(er)在高溫下能夠保持優良的(de)穩(wen)定性，適合(he)在-50～400℃的溫(wen)度下(xia)使用(yong)。

2．     鉑(bo)薄膜通過激光噴(pen)濺在陶瓷表層，因而它具有良好的防震和防沖擊性能。

3．   薄膜表(biao)面蓋(gai)以陶瓷，因而元件能夠承受高(gao)壓，并具有良好的絕緣性。

4．   ; 引線材料為鎳鍍金(jin)和純鈀兩種。

5． ; 規格：

型號	規(gui)格長×寬×高	阻值	測量電流	精度	測量范圍	熱響(xiang)應時間
CRZ-1632	3.2×1.6×1.0	PT100 PT100	≤1mA	A	-50～550℃	≤0.3S
CRZ-2005	5.0×2.0×1.1	PT50	≤2mA	A	-50～400℃
CRZ-2005	5.0×2.0×1.0	PT10	≤0.5mA	B	-50～500℃