更新時間:2024-02-28
鎧裝薄膜(mo)鉑熱(re)電阻(zu),WZPK-324U 熱(re)電阻(zu)的(de)工作原理:在溫度的(de)作用下,電阻(zu)絲的(de)電阻(zu)隨之變化而變化。可用于測量 -200℃~﹢800℃范圍內的(de)溫度。其優點是:偏差極小。由于它(ta)的(de)良好電輸出性(xing)能,熱(re)電阻(zu)可為(wei)顯(xian)示(shi)儀(yi)、記錄(lu)儀(yi)、調節儀(yi)、掃描儀(yi)及電腦提供精確的(de)輸入值。
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WZPK324U鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-324U,的詳細資料: |
1. 測溫范圍、允差
2.熱響應時(shi)間 在溫度(du)出現階躍變(bian)化時(shi),熱電阻的電阻值變化至相當(dang)于該階躍(yue)變化的50%,所需要的(de)時(shi)間稱(cheng)為熱響應(ying)時(shi)間,用(yong)t0.5表示。 3.自熱影響 鉑(bo)電阻允許通(tong)過(guo)電流1mA,zui大(da)測量電流為5mA,由此(ci)產生的升溫(wen)不大于0.3℃。
4.電阻溫(wen)度系數(α)與標稱(cheng)值(zhi)的(de)偏差
5.絕緣電阻 當周圍空(kong)氣(qi)溫度(du)15-35℃和相對濕(shi)度小于80%時熱電阻絕緣電阻不小于(yu)100MΩ。
薄膜(mo)鉑電(dian)阻元件(jian) 一、 概(gai)述 CRZ系列薄膜鉑(bo)熱電阻元件是把金屬(shu)鉑(bo)研(yan)制(zhi)成粉漿,采用*的(de)激光噴(pen)濺薄膜技術及光刻法(fa)和干燥蝕刻法(fa)把附著在陶瓷基片上形成膜,引(yin)線經過激光調(diao)阻制(zhi)成,*自動(dong)的(de)生產程序保證了產品*符合(he)IEC標準(zhun)。 二、 技術特點 1. 薄(bo)膜鉑熱電阻元件用陶(tao)瓷和(he)鉑制成,因而在高溫下(xia)能夠保持(chi)優良的穩定(ding)性,適合(he)在-50~400℃的溫(wen)度下使用。 2. 鉑薄(bo)膜(mo)通過激光噴(pen)濺在陶瓷表層,因而(er)它具有良(liang)好的防(fang)震(zhen)和防(fang)沖擊性能。 3. 薄膜表面蓋以陶瓷,因而元件能夠承受高(gao)壓,并具有(you)良好的絕緣(yuan)性。 4. 引(yin)線材(cai)料為鎳鍍金(jin)和(he)純(chun)鈀兩種。 5. 規格:
6. 精度:
表面熱電偶溫度計WRE2-230B,WRN-220B,WRN-220AB,WRN2-220B,WRN2-220AB |
021-56699281
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