鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-364U

更新(xin)時間：2024-02-28

簡要描述：

鎧裝(zhuang)薄(bo)膜鉑熱電(dian)阻(zu)(zu)，WZPK-364U熱電(dian)阻(zu)(zu)的工(gong)作(zuo)原理：在溫度的作(zuo)用下(xia)，電(dian)阻(zu)(zu)絲的電(dian)阻(zu)(zu)隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內的溫度。其(qi)優點(dian)是：偏差極(ji)小。由于它的良(liang)好(hao)電(dian)輸出性能，熱電(dian)阻(zu)(zu)可為顯示(shi)儀(yi)(yi)、記錄儀(yi)(yi)、調節(jie)儀(yi)(yi)、掃描儀(yi)(yi)及電(dian)腦提供精確的輸入值

鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-364U上海自動化儀表三廠, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內的溫度。其優點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調節儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值

WZPK364U鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-364U上海自動化儀表三廠,的詳細資料：

1．測溫范圍、允差

名(ming)稱	型號	分度(du)號	測溫范圍(wei)	等(deng)級	允許偏(pian)差
鉑電阻	WZP	Pt100 Pt10	-200~±650℃	A	±（0.15+0.02t）
鉑電阻	WZP	Pt100 Pt10	-200~±650℃	B	±0.30+0.005t
銅電阻(zu)	WZC	Cu50 Cu100	-50~+150℃		±（0.30+0.006t）

2.熱響應時間

在溫度出現階(jie)躍變化時,熱電阻的(de)電阻值變化(hua)至相當于該階躍變化(hua)的(de)50%，所需要的時(shi)間稱(cheng)為熱響應時(shi)間，用t0.5表(biao)示(shi)。

3.自熱(re)影(ying)響

鉑(bo)電阻允許通過(guo)電流1mA，zui大測量電(dian)流為5mA，由此產(chan)生(sheng)的(de)升溫(wen)不大于(yu)0.3℃。

4.電阻(zu)溫度系數(shu)（α）與標稱值的偏差

名稱	等級	α	α
鉑(bo)電(dian)阻	A	0．003851	±0.000006
鉑(bo)電(dian)阻	B	0．003851	±0.000012
銅電(dian)阻		0．004280	±0.000020

5.絕緣電(dian)阻

當周圍空氣溫度15-35℃和相對濕(shi)度小于80%時熱電阻絕緣(yuan)電阻不小于100MΩ。

薄膜鉑電阻元(yuan)件

一、 ; 概述

CRZ系列(lie)薄膜鉑(bo)熱電阻(zu)(zu)元件(jian)是把金屬鉑(bo)研(yan)制成粉(fen)漿，采用*的激(ji)光(guang)噴(pen)濺薄膜技(ji)術及光(guang)刻(ke)法(fa)和干燥蝕刻(ke)法(fa)把附著在(zai)陶瓷(ci)基(ji)片上(shang)形成膜，引線經(jing)過(guo)激(ji)光(guang)調(diao)阻(zu)(zu)制成，*自動(dong)的生產程序(xu)保證了產品*符合IEC標(biao)準(zhun)。

二、   技術特(te)點

1．     薄(bo)膜鉑熱(re)電阻元件(jian)用陶瓷和鉑制成，因而在(zai)高溫下能(neng)夠保持優(you)良的穩定性，適合在(zai)-50～400℃的溫(wen)度下(xia)使(shi)用(yong)。

2． ; 鉑(bo)薄膜通過(guo)激光噴濺(jian)在陶瓷表層，因而(er)它具有良(liang)好的防震和防沖擊性能。

3．   薄膜(mo)表(biao)面蓋以陶瓷，因而元件(jian)能夠(gou)承受高壓，并具有良(liang)好(hao)的絕緣(yuan)性(xing)。

4．   引線材料(liao)為鎳鍍(du)金和純鈀兩種。

5．規格：

型號	規格(ge) 長×寬(kuan)×高	阻(zu)值(zhi)	測量電流	精度	測(ce)量范圍(wei)	熱響應時間(jian)
CRZ-1632	3.2×1.6×1.0	PT100 PT100	≤1mA	A	-50～550℃	≤0.3S
CRZ-2005	5.0×2.0×1.1	PT50	≤2mA	A	-50～400℃
CRZ-2005	5.0×2.0×1.0	PT10	≤0.5mA	B	-50～500℃